射頻識(shí)別試管、檢驗(yàn)設(shè)備及試管識(shí)別系統(tǒng),涉及檢驗(yàn)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,射頻識(shí)別試管,包括檢驗(yàn)試管與試管標(biāo)簽,所述檢驗(yàn)試管與所述試管標(biāo)簽連接,所述檢驗(yàn)試管與所述試管標(biāo)簽的連接方式包括可拆卸連接,所述檢驗(yàn)試管包括試管主體,所述試管標(biāo)簽與所述試管主體連接,所述試管標(biāo)簽的長(zhǎng)度小于所述試管主體的長(zhǎng)度,所述試管標(biāo)簽的內(nèi)徑大于所述試管主體的外徑,所述試管標(biāo)簽套設(shè)在所述試管主體的外側(cè),所述試管標(biāo)簽為射頻識(shí)別標(biāo)簽。檢驗(yàn)設(shè)備,包括試管架和所述的射頻識(shí)別試管。試管識(shí)別系統(tǒng),包括所述的射頻識(shí)別試管或所述的檢驗(yàn)設(shè)備,還包括射頻讀寫系統(tǒng)。本實(shí)用新型可以提高試管識(shí)別的效率,且試管標(biāo)簽可以設(shè)置在不同的檢驗(yàn)試管上,降低了檢驗(yàn)成本。